.
XRD laboratuvarı
MODEL: BRUKER AXS D8 ADVANCE MODEL X-Işını Toz Difraktometresi (XRD)
Katı polikristal numunelerin veya tozlarının X-Işını toz difraksiyon desenlerinden;
• Kristal yapı ve birim hücre parametreleri belirlenebilir
• Tek kristal yönlenimi tespit edilebilir
• Numunenin bileşik olarak analizi yapılabilir ve farklı fazlar belirlenebilir
• Bir malzemenin içerdiği bileşik veya elementler tayin edilebilir
• Süper iletken ve yarı iletkenler, seramikler, metaller, alaşımlar, heterojen katı karışımlar, korozifler, çelik, kaplama malzemeleri, maden ve toprak analizleri, böbrek ve mesane taşları, pigmentler, bazı boyarmaddeler, katı organik veya inorganik polimer ve plastikler, çimentolar, bazı kristalin veya amorf kompleks bileşikler incelenebilir.
